microscopio
microscopio
microscòpio [Comp. di micro- e -scopio, termine coniato, in analogia con il termine telescopio, dal linceo J. Faber nel 1625 per indicare, dottamente, lo strumento oggi detto m. semplice (v. oltre)] [OTT] Strumento che presenta all'occhio immagini sufficientemente ingrandite di oggetti molto piccoli o che ne fornisce immagini fotografiche, parimenti ingrandite. ◆ [OTT] M. a contrasto di fase: m. ottico che si avvale della differente variazione di fase introdotta nella luce di analisi dall'oggeto in esame e dal mezzo circostante: v. microscopia ottica: III 860 a. ◆ [ACS] M. acustico: v. microscopia acustica: III 836 d. ◆ [ELT] M. a forze atomiche: tipo particolare di m. elettronico a scansione a effetto tunnel: v. microscopia elettronica e ionica: III 853 a. ◆ [OTT] M. a incidenza radente: v. ultravioletto: VI 398 b. ◆ [OTT] M. a luce incidente: m. ottico in campo riflesso, cioè che usa per la formazione dell'immagine la luce riflessa dalla superficie del campione: v. microscopia ottica: III 859 f. ◆ [OTT] M. a luce polarizzata: lo stesso che m. polarizzatore (v. oltre). ◆ [OTT] M. a macchia viaggiante, o volante: v. granulometria ottica: III 65 e. ◆ [MCQ] M. a raggi gamma: ideale m. a raggi γ concepito da W. Heisenberg come dispositivo sperimentale per corroborare il principio di indeterminazione: v. misura in meccanica quantistica, teoria della: IV 7 f. ◆ [FSD] M. a raggi X.: → microscopia: M. a raggi X. ◆ [OTT] M. a riflessione: m. ottico per campioni opachi, lo stesso che m. a luce incidente (v. sopra). ◆ [ELT] M. a riflessione di elettroni di bassa energia (LEERM): v. microscopia elettronica e ionica: III 854 c. ◆ [FAT] M. a trasmissione a ioni leggeri: v. microscopia elettronica e ionica: III 854 c. ◆ [OTT] M. binoculare: m., in genere ottico, provvisto di due oculari a distanza interpupillare per avere una visione stereoscopica dell'immagine: v. microscopia ottica: III 860 a. Una disposizione simile si ha per qualche tipo di m. elettronico e ionico. ◆ [OTT] M. composto: denomin. data in passato, in contrapp. al m. semplice (costituito solo da una lente convergente), al m. ottico costituito da un obiettivo e un oculare; oggi è inteso come equivalente a m. ottico: v. microscopia ottica: III 856 e. ◆ [OTT] M. confocale: v. microscopia ottica: III 862 f. ◆ [ELT] M. corpuscolare, o particellare: altra denomin. del m. elettronico e del m. ionico. ◆ [OTT] M. elettronico: denomin. generica dei vari strumenti della microscopia elettronica, raggruppabili nelle due principali categorie dei m. elettronici a trasmissione, analoghi, come schema ottico, agli ordinari m. ottici (v. microscopia elettronica e ionica: III 841 a), e dei m. elettronici a scansione (v. microscopia elettronica e ionica: III 847 c). ◆ [ELT] M. elettronico ad alta risoluzione: v. microscopia elettronica e ionica: III 842 e. ◆ [ELT] M. elettronico ad alta tensione: v. microscopia elettronica e ionica: III 842 d. ◆ [ELT] M. elettronico a riflessione, a emissione, a specchio, a elettroni di bassa energia: v. microscopia elettronica e ionica: III 854 c. ◆ [ELT] M. elettronico a risoluzione atomica (ARM): v. microscopia elettronica e ionica: III 842 e. ◆ [ELT] M. elettronico a scansione a effetto tunnel: v. microscopia elettronica e ionica: III 851 e. ◆ [ELT] M. elettronico a scansione a spin polarizzato: v. microscopia elettronica e ionica: III 848 b. ◆ [ELT] M. elettronico a scansione con elettroni di bassa energia: v. microscopia elettronica e ionica: III 848 b. ◆ [ELT] M. elettronico a scansione elettroacustica: v. microscopia elettronica e ionica: III 848 f. ◆ [ELT] M. elettronico a scansione in trasmissione: v. microscopia elettronica e ionica: III 849 e. ◆ [OTT] M. in campo oscuro: v. pseudocolorazione: IV 623 e. ◆ [OTT] M. interferenziale: m. ottico che si avvale di fenomeni d'interferenza fatti avvenire nell'interno o sulla superficie del campione, nel senso che differenze, anche piccole, di indice di rifrazione o di spessore danno luogo a deformazioni osservabili della figura d'interferenza: v. microscopia ottica: III 860 b. ◆ [FAT] M. ionico: m. particellare in cui la struttura e le proprietà della superficie di un campione sono ottenute visualizzando gli ioni emessi dalla superficie medesima per effetto di campo (donde la denomin. completa di m. ionico a effetto di campo, o a emissione di campo): v. microscopia elettronica e ionica: III 851 b. ◆ [FAT] M. ionico a scansione: v. microscopia elettronica e ionica: III 854 a. ◆ [FAT] M. ionico a scansione ottica per campo vicino: v. microscopia elettronica e ionica: III 853 b. ◆ [OTT] M. metallografico: m. ottico per osservare la superficie di campioni metallici o, in generale, di solidi opachi; di norma è un m. a luce incidente: v. microscopia ottica: III 859 f. ◆ [MTR] [OTT] M. micrometrico: m. ottico provvisto di dispositivi a vite micrometrica per traslare di quantità note il preparato secondo due assi ortogonali e quindi poter misurare in esso dimensioni lineari e anche aree di superfici, come prodotto delle misure delle lunghezze dei loro contorni. Sono tali alcuni tipi di comparatori di lastre fotografiche usati nell'astrometria. ◆ [OTT] M. polarizzatore: m. ottico nel quale per l'osservazione si usa luce polarizzata (a tal fine lo strumento è dotato di un polarimetro), partic. adatto per studiare campioni otticamente anisotropi (tipic., campioni di minerali): v. microscopia ottica: III 860 c. ◆ [OTT] M. semplice: il primo strumento d'ingrandimento visuale a essere stato realizzato (il primo in Italia fu realizzato, nel 1624, da G. Galilei, che lo chiamò occhialino), ora detto più comunem. lente d'ingrandimento: v. microscopia ottica: III 856 b. ◆ [OTT] M. stereoscopico: lo stesso che m. binoculare. ◆ [OTT] M. universale: m. ottico provvisto di illuminatori tali da consentire l'osservazione in campo chiaro (per trasparenza), in campo riflesso (per riflessione) e in campo scuro (per diffusione).