In elettronica, particolare condizione di malfunzionamento dei circuiti integrati realizzati con la tecnologia dei transistori C-MOS. In tale condizione, si osserva la presenza di una elevata intensità di corrente di conduzione sulla tensione di alimentazione, che può dar luogo al surriscaldamento del circuito e anche alla sua distruzione. Vari accorgimenti tecnologici e circuitali sono comunemente adottati per evitare che possano insorgere condizioni di latch up.