diagrammi di Laue
Pattern di diffrazione impiegati per ricavare informazioni sulla struttura di un solido cristallino. Dovuti al fisico tedesco Max von Laue, sono costituiti da macchie disposte simmetricamente ottenute quando un fascio di raggi X (oppure di elettroni o di neutroni) passa attraverso uno strato sottile di un cristallo, lasciando impressionata una lastra fotografica. Tali diagrammi sono impiegati in cristallografia per la determinazione dell’orientazione e della simmetria della struttura cristallina (metodo di Laue). La procedura fa uso di raggi X policromatici provenienti da un tubo a raggi X a tungsteno a spettro continuo. Tali raggi, formanti un fascio finemente collimato, passano attraverso un foro al centro di una lastra fotografica e colpiscono il cristallo, il cui orientamento può essere variato arbitrariamente. Una volta riflessi, i raggi sono registrati su una lastra fotosensibile posta a qualche centimetro di distanza dal cristallo. Lo sviluppo del negativo mostra una serie di macchie disposte in modo simmetrico, ognuna delle quali rappresenta l’interferenza costruttiva tra più piani reticolari. In particolare, a tutti i piani di una determinata zona corrispondono macchie che descrivono un’iperbole. Studiando la conformazione di tali iperboli e avvalendosi di ulteriori tecniche goniometriche si può risalire alla struttura del cristallo in esame. Il metodo di Laue è anche impiegato per la determinazione di strutture macromolecolari (per es., proteine) con radiazione di sincrotrone.